一、概念:
二极管是两端口电子器件,支持电流沿着一个方向流动(正向压),并阻碍电流从反方向流动(反向偏压)。无论在研究实验室还是生产线,都要对封装器件或在晶圆上进行二极管I-V测试。
二、数字源表测量优势:
二极管I-V特性分析通常需要高灵敏电流表、电压表、电压源和电流源。对所有分离仪器进行编程、同步和连接,既麻烦又耗时,而且需要大量机架或测试台空间。
S型数字源表简化了测试,缩小机架空间,成为二极管特性分析的理想选择,因为它能够提供电流和电压的源和测量。
三、二极管I-V测试
二极管参数测试要求能在较宽范围提供电流和电压的源和测量。
图2给出典型二极管的I-V曲线,包括正向区、反向区和击穿区,以及常见的测试点、正向电压(VF)、漏电流(IR)和击穿电压(VR)。正向电压(VF)测试涉及在二极管的正常工作范围内提供指定的正向偏置电流,然后测量作为结果的电压降。
![二极管特性](http://www.ejiguan.cn/uploadfile/2021/0720/20210720045433639.jpg)
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漏电流(IR)测试确定二极管在反向电压条件下泄漏的电流电平。其测试通过提供指定的反向电压源,然后测量作为结果的漏电流。在反向击穿电压(VR)测试中,需要提供指定的反向电流偏置源,然后测量作为结果的二极管电压降。
四、二极管与数字源表的连接
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连接如图所示
源表应用之二极管I-V特性分析
利用4线连接,可以消除引线电阻的影响。
当引线与二极管连接时,注意Force HI和Sense HI引线与二极管阳极端相连,Force LO和Sense LO引线与二极管阴极端相连。尽可能使连接靠近二极管,以消除引线电阻对测量准确度的影响。
当测量低电平电流(<1μA)时,建议使用后面板的三轴同轴连接器和三轴同轴电缆,不再使用前面板的香蕉插孔。
三轴同轴电缆具有屏蔽功能,将减少电磁干扰效应,电磁干扰效应可能会干扰读数。图下图为二极管与数字源表后面板三轴同轴连接器连接示意图。
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除了使用三轴同轴电缆,还应当把二极管放置在避光的金属屏蔽箱内。
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