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  • IGBT开关过程分析与驱动考虑
    • 发布时间:2021-01-18 18:10:13
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    IGBT开关过程分析与驱动考虑
    IGBT在二极管钳位感性负载条件下的电路如图1所示,该电路为IGBT常用电路,可作为IGBT开关特性的测试电路,评估IGBT的开通及关断行为。图2为综合考虑了二极管的恢复特性及杂散电感(Ls)得到的IGBT实际开关波形,可作为设计IGBT驱动电路的参考。首先我们设定IGBT运行在持续的稳态电流条件下,流经感性负载然后流过与感性负载并联的理想续流二极管。 
    IGBT开关过程
    IGBT二极管钳位感性负载电路
    图1. Diode-Clamped inductive load
    IGBT开关过程
    IGBT开关波形
    图2. IGBT Switching Waveforms
    IGBT的导通波形与MOSFET非常相像,IGBT的关断特性除了拖尾电流外也与MOSFET类似,下面逐个时间区域说明IGBT动作原理。
    a.导通过程
    t0时间段:
    t0时间段内,门极电流iG对输入寄生电容Cge、Cgc充电,VGE上升至阈值VGE(th)。VGE被认为线性上升,实际上是时间常数为RG(Cge+Cgc)的指数曲线。在此时间内,VCE及iC不变。导通延迟时间定义为从门极电压上升至VGG+的10%开始到集电极电流iC上升至Io的10%的为止。因而,大部分导通延迟时间处在t0时间段。
    t1时间段:
     当VGE超过VGE(th)时,栅氧化层下的基区形成沟道,电流开始导通。在此时间内,IGBT处在线性区,iC随着VGE而上升。iC的上升与VGE的上升有关,最终到达满载电流Io。在t1和t2时间段,VCE的值相对于Vd略有下降,这是由于回路的杂散电感造成的电压VLS=LS*diC/dt,产生在LS两端,与Vd方向相反。当iC上升时,VCE下降的值取决于diC/dt及LS,形状随iC形式而变化。
    t2,t3时间段:
     二极管电流iD在t1时间段内开始下降,然而并不能立刻降至0A,因为存在反向恢复过程,电流会反向流动。反向恢复电流叠加至iC上,使t2、t3时间段的iC形式一样。此刻,二极管两端的反向电压增加,IGBT两端压降VCE下降,因为Cge在VCE较大时的值较小,VCE迅速下降,因而,此时的dVCE/dt较大。在t3时间内,Cgc吸收及放电门极驱动电流,Cge放电。在t3时间段末尾,二极管的反向恢复过程结束。
    t4时间段:
     该段时间内,iG向Cgc充电,VGE维持在VGE,IO,iC维持在满载电流Io,而VCE以 (VGG-VGE,Io)/(RGCgc)的速度下降。VCE大幅度下降并有一个拖尾电压,这是因为Cgc在低VCE时的值较大。
    t5时间段:
     该段时间内VGE再次以时间常数RG(Cge+Cgc,miller)增加直到VGG+,Cgc,miller为密勒电容,由于密勒效应随着VCE的降低而上升。t5时间内,VCE缓慢下降至集电极-发射极饱和电压,充分进入饱和状态。这是因为IGBT晶体管穿过线性区的速度比MOSFET慢,以及密勒电容Cgc,miller的影响。转载请注明出处:
    IGBT开关过程
    IGBT开通动作过程图解
    图3 IGBT开通动作过程图解
    驱动器启动过程模拟仿真: 
    IGBT开关过程
    IGBT仿真模型分析结果
    图4 IGBT仿真模型分析结果
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